高精度測量潔凈室環(huán)境顆粒檢測儀顯示器

高精度測量潔凈室環(huán)境顆粒檢測儀顯示器

高精度測量

• 粒徑檢測范圍：AES-CKM能夠檢測0.3μm（或0.5μm）及以上的顆粒，適用于高精度的潔凈室環(huán)境監(jiān)測。
• 可視化顯示：支持使用類別值對懸浮顆粒進(jìn)行可視化，便于直觀了解潔凈室內(nèi)的顆粒分布情況。

緊湊設(shè)計(jì)

• 傳感器單元設(shè)計(jì)緊湊：適合集成到生產(chǎn)設(shè)備中，并且可以安裝在狹窄的空間內(nèi)。
• 便于集成：其設(shè)計(jì)使其易于集成到現(xiàn)有的潔凈室監(jiān)測系統(tǒng)中，提高了監(jiān)測的靈活性。

易于操作與顯示

• 簡單操作性：AES-CKM的操作界面簡單直觀，使清潔管理變得更簡單、更直觀。
• LED顯示：通過4級LED顯示清潔度等級，從1,000至100,000級。

應(yīng)用廣泛

• 多種應(yīng)用領(lǐng)域：適用于潔凈室、半導(dǎo)體/薄膜/食品制造過程、印刷過程和醫(yī)院設(shè)施等多種需要清潔度控制的環(huán)境。
• HACCP管理：對于食品加工等行業(yè)的HACCP管理也很有用。

技術(shù)參數(shù)

• 輸出功能：能夠輸出0.3μm（或0.5μm）及數(shù)μm以上的粒子數(shù)（參考值）。
• 價(jià)格區(qū)間：AES-CKM的價(jià)格區(qū)間為1萬-2萬。

高精度測量

• 粒徑檢測范圍：AES-CKM能夠檢測0.3μm（或0.5μm）及以上的顆粒，適用于高精度的潔凈室環(huán)境監(jiān)測。
• 可視化顯示：支持使用類別值對懸浮顆粒進(jìn)行可視化，便于直觀了解潔凈室內(nèi)的顆粒分布情況

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緊湊設(shè)計(jì)

• 傳感器單元設(shè)計(jì)緊湊：適合集成到生產(chǎn)設(shè)備中，并且可以安裝在狹窄的空間內(nèi)

  。
• 便于集成：其設(shè)計(jì)使其易于集成到現(xiàn)有的潔凈室監(jiān)測系統(tǒng)中，提高了監(jiān)測的靈活性

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易于操作與顯示

• 簡單操作性：AES-CKM的操作界面簡單直觀，使清潔管理變得更簡單、更直觀

  。
• LED顯示：通過4級LED顯示清潔度等級，從1,000至100,000級。

應(yīng)用廣泛

• 多種應(yīng)用領(lǐng)域：適用于潔凈室、半導(dǎo)體/薄膜/食品制造過程、印刷過程和醫(yī)院設(shè)施等多種需要清潔度控制的環(huán)境

  。
• HACCP管理：對于食品加工等行業(yè)的HACCP管理也很有用

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技術(shù)參數(shù)

• 輸出功能：能夠輸出0.3μm（或0.5μm）及數(shù)μm以上的粒子數(shù)（參考值）

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• 價(jià)格區(qū)間：AES-CKM的價(jià)格區(qū)間為1萬-2萬

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