產品資料
半導體高精度檢測鹵素光源燈裝置
產品名稱: 半導體高精度檢測鹵素光源燈裝置
產品型號: YP-150ID
產品特點: 半導體高精度檢測鹵素光源燈裝置日本山田光學 YP-150ID 是一款高亮度鹵素光源設備，主要用于半導體晶圓、液晶基板等表面缺陷的宏觀檢查。以下是其核心特點和技術參數：主要特點：超高亮度：樣品表面照度可達 400,000 Lx 以上，能清晰檢測微小劃痕、異物、拋光不均等缺陷 。冷鏡技術：采用冷鏡減少熱影響，熱效應僅為傳統鋁鏡的 1/3，有效保護樣品和設備 。色溫高：鹵素燈色溫達 3,400
半導體高精度檢測鹵素光源燈裝置 的詳細介紹
半導體高精度檢測鹵素光源燈裝置
半導體高精度檢測鹵素光源燈裝置
日本山田光學 YP-150ID 是一款高亮度鹵素光源設備，主要用于半導體晶圓、液晶基板等表面缺陷的宏觀檢查。以下是其核心特點和技術參數：
主要特點：
- 超高亮度：樣品表面照度可達 400,000 Lx 以上，能清晰檢測微小劃痕、異物、拋光不均等缺陷 。
- 冷鏡技術：采用冷鏡減少熱影響，熱效應僅為傳統鋁鏡的 1/3，有效保護樣品和設備。
- 色溫高：鹵素燈色溫達 3,400K，照明穩定、銳利，適合高精度檢測。
- 兩段式切換：支持一鍵切換高照度與低照度觀察模式，適應不同檢測需求 。
技術參數（YP-150ID）：
| 項目 | 參數值 |
|---|---|
| 照射直徑 | φ30 mm |
| 照度 | ≥400,000 Lx |
| 光束距離 | 140 mm |
| 燈泡型號 | JCR15V150W（牛尾） |
| 燈泡壽命 | 35–50 小時 |
| 色溫 | 3,400 K |
| 冷卻方式 | 強制風扇冷卻 |
| 尺寸（燈屋部分） | 100×245×116 mm |
| 重量（燈屋部分） | 約 1.7 kg |
| 電源 | AC 100V，50/60Hz |
| 功耗 | 約 200W |
應用場景：
- 半導體晶圓表面缺陷檢測（如劃痕、異物、霧度等）；
- 液晶基板、玻璃等材料的表面質量檢查；
- 適用于 6 英寸及以下尺寸樣品的檢查 。
YP-150ID 是精密制造行業中用于高亮度照明檢測的理想選擇，尤其適合對微小缺陷有高靈敏度要求的場合。
日本山田光學 YP-150ID 是一款高亮度鹵素光源設備，主要用于半導體晶圓、液晶基板等表面缺陷的宏觀檢查。以下是其核心特點和技術參數：
主要特點：
- 超高亮度：樣品表面照度可達 400,000 Lx 以上，能清晰檢測微小劃痕、異物、拋光不均等缺陷 。
- 冷鏡技術：采用冷鏡減少熱影響，熱效應僅為傳統鋁鏡的 1/3，有效保護樣品和設備。
- 色溫高：鹵素燈色溫達 3,400K，照明穩定、銳利，適合高精度檢測。
- 兩段式切換：支持一鍵切換高照度與低照度觀察模式，適應不同檢測需求 。
技術參數（YP-150ID）：
| 項目 | 參數值 |
|---|---|
| 照射直徑 | φ30 mm |
| 照度 | ≥400,000 Lx |
| 光束距離 | 140 mm |
| 燈泡型號 | JCR15V150W（牛尾） |
| 燈泡壽命 | 35–50 小時 |
| 色溫 | 3,400 K |
| 冷卻方式 | 強制風扇冷卻 |
| 尺寸（燈屋部分） | 100×245×116 mm |
| 重量（燈屋部分） | 約 1.7 kg |
| 電源 | AC 100V，50/60Hz |
| 功耗 | 約 200W |
應用場景：
- 半導體晶圓表面缺陷檢測（如劃痕、異物、霧度等）；
- 液晶基板、玻璃等材料的表面質量檢查；
- 適用于 6 英寸及以下尺寸樣品的檢查 。
YP-150ID 是精密制造行業中用于高亮度照明檢測的理想選擇，尤其適合對微小缺陷有高靈敏度要求的場合。
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